高分辨透射电子显微镜 (TEM)
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品 牌
日本电子
型 号JEM-2010/JEOL
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
780
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
高分辨透射电子显微镜 (TEM)仪器简介:
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。
仪器参数
高分辨透射电子显微镜 (TEM)性能参数:
加速电压,最高200kV;
LaB6灯丝;
配有底插CCD相机;
单倾及双倾样品杆
测量范围: TEM放大倍数:50x~1.5Mx 样品台倾角:a,b轴倾角约±20°
测量精度: 点分辨率:0.19nm晶格分辨率:0.14nm 检测
特色: 这是一台高分辨透射电镜,可以对各种无机材料进行微区形貌、结构研究,设备可采集高质量的衍衬像(明场像、暗场像)、选区(或微区)电子衍射图像及局域晶格像。
检测项目
高分辨透射电子显微镜 (TEM)应用:
透射电子显微镜在材料科学 、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品,通常是挂预处理过的铜网上进行观察。
样品要求
仪器简介
高分辨透射电子显微镜 (TEM)仪器简介:
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。
仪器参数
高分辨透射电子显微镜 (TEM)性能参数:
加速电压,最高200kV;
LaB6灯丝;
配有底插CCD相机;
单倾及双倾样品杆
测量范围: TEM放大倍数:50x~1.5Mx 样品台倾角:a,b轴倾角约±20°
测量精度: 点分辨率:0.19nm晶格分辨率:0.14nm 检测
特色: 这是一台高分辨透射电镜,可以对各种无机材料进行微区形貌、结构研究,设备可采集高质量的衍衬像(明场像、暗场像)、选区(或微区)电子衍射图像及局域晶格像。
测试项目
高分辨透射电子显微镜 (TEM)应用:
透射电子显微镜在材料科学 、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品,通常是挂预处理过的铜网上进行观察。
样品要求
本高分辨透射电子显微镜 (TEM)适合无磁性微纳米尺寸无机、有机以及复合材料样品
请在预约机时前制备好样品,这是关系到能否拍摄出高质量高分辨电镜照片的第一步。
粉末类样品制备时注意以下事项:
选择支持膜(碳膜或微栅),一般的粉体选择碳膜即可,碳管或反差不好的样品如包覆等需要用微栅