布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

       高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

主要应用：

物相定性分析       结晶度及非晶相含量分析

结构精修及解析      物相定量分析

点阵参数精确测量    无标样定量分析

微观应变分析        晶粒尺寸分析

原位分析            残余应力

低角度介孔材料测量  织构及ODF分析

薄膜掠入射          薄膜反射率测量

小角散射

主要特点:
   智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
   可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
   可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

   1. 粉末样品的物相定性与定量分析
   2. 计算结晶化度、晶粒大小
   3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
   4. Rietveld定量分析
   5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
   6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
   7. 小角散射与纳米材料粒径分布
   8. 微区样品的分析

 布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

       高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

主要应用：

物相定性分析       结晶度及非晶相含量分析

结构精修及解析      物相定量分析

点阵参数精确测量    无标样定量分析

微观应变分析        晶粒尺寸分析

原位分析            残余应力

低角度介孔材料测量  织构及ODF分析

薄膜掠入射          薄膜反射率测量

小角散射

主要特点:
   智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
   可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
   可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

   1. 粉末样品的物相定性与定量分析
   2. 计算结晶化度、晶粒大小
   3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
   4. Rietveld定量分析
   5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
   6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
   7. 小角散射与纳米材料粒径分布
   8. 微区样品的分析

技术指标：

Theta/theta立式测角仪

2Theta角度范围：-110~168°

角度精度：0.0001度                     

Cu靶，标准尺寸光管 

探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器                  

仪器尺寸：1868x1300x1135mm                            

重量：770kg

功率：6.5kW

XRD

粉末样品、块状样品、薄膜样品均可。粉末30mg，细小、均匀粉末或者块体，非晶材料需仔细研磨