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场发射扫描电子显微镜(SEM)

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场发射扫描电子显微镜(SEM)

  • 品 牌

    Hitachi(日立)

    型 号

    SU8010/8020

  • 模 式

    • 选 项

      • 地 址

        山东 淄博

      • 价 格

        100

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  • 详细介绍
仪器简介

    SU8020拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面,使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能,提高了图像质量,尤其是将低加速电压下的图像质量提高到了新的水平;新型透镜系统,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式,使以往无法实现的工作得以轻松成,同时配备有高性能的HORIBA EX-350,可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。


1)     广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究

2)     在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析

3)     各种材料的形貌组织观察

4)     材料实时微区成分分析

5)     快速的多元素面扫描和线扫描分布测量

6)     晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量

7)     元素定量、定性成分分析

8)     晶体、晶粒的相鉴定


仪器参数

1)     电子枪:冷场发射电子枪

2)     分辨率:

a)   1.0nm (15kV,工作距离4mm) b)   2.0nm (1kV)不用减速模式 c) 1.3nm (1KV)电子减速功能 d) (减速和非减速功能可自由切换)

3)     放大倍数:

a) 低倍模式, 20-2000 x (底片输出),80-5000 x(显示器输出)   b) 高倍模式, 80-800000 x(底片输出),300-2000000 x(显示输出)

4)     加速电压:0.1 ~ 30kV (0.1KV)

5)     可同时显示以显示器为准和以底片为准的两种模式的放大倍率

6)     物镜光阑:4孔可调式,内置加热自清洁装置

7)     样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动)

8)     通过预抽室交换样品,预抽室端面透明,可观察到样品交换过程

9)     具有样品安装到位提示,避免样品在安装时脱落

10)   具有高位和低位二次电子探测器

a) 高位探头安装在物镜上方,避免影响物镜成像  b) 二次电子和被散射电子能在一个检测器上按任意比例混合(100多种混合方式)

11)   扫描模式:TV扫描(扫描速度不低于25帧/秒)

a)  快扫描  b) 慢扫描 全屏模式下1、4、20、40、80秒/桢,可选

12)   图像储存:640×480,1280×960,2560×1920,5120×3480像素

13)   捕捉的图片可存储在临时图片栏内,可选择单张存储或批量存储,可自动连续命名

14)   电子图像移动:±12μm (WD=8mm)

15)   真空系统:

a)      真空度:10-7Pa (电子枪);10-4Pa (样品室) b)     真空泵:分子泵(磁悬浮型)300L/S×1 c)      机械泵


检测项目

磁性/非磁性 形貌观察

EDS能谱-点扫、线扫、面扫

样品要求
仪器简介

    SU8020拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面,使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。 采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能,提高了图像质量,尤其是将低加速电压下的图像质量提高到了新的水平;新型透镜系统,提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式,使以往无法实现的工作得以轻松成,同时配备有高性能的HORIBA EX-350,可同时进行微区、亚微区成分定性和定量以及元素分布分析。


1)     广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究

2)     在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析

3)     各种材料的形貌组织观察

4)     材料实时微区成分分析

5)     快速的多元素面扫描和线扫描分布测量

6)     晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量

7)     元素定量、定性成分分析

8)     晶体、晶粒的相鉴定


仪器参数

1)     电子枪:冷场发射电子枪

2)     分辨率:

a)   1.0nm (15kV,工作距离4mm) b)   2.0nm (1kV)不用减速模式 c) 1.3nm (1KV)电子减速功能 d) (减速和非减速功能可自由切换)

3)     放大倍数:

a) 低倍模式, 20-2000 x (底片输出),80-5000 x(显示器输出)   b) 高倍模式, 80-800000 x(底片输出),300-2000000 x(显示输出)

4)     加速电压:0.1 ~ 30kV (0.1KV)

5)     可同时显示以显示器为准和以底片为准的两种模式的放大倍率

6)     物镜光阑:4孔可调式,内置加热自清洁装置

7)     样品台驱动:3轴马达驱动(包含 两轴手动)

8)     通过预抽室交换样品,预抽室端面透明,可观察到样品交换过程

9)     具有样品安装到位提示,避免样品在安装时脱落

10)   具有高位和低位二次电子探测器

a) 高位探头安装在物镜上方,避免影响物镜成像  b) 二次电子和被散射电子能在一个检测器上按任意比例混合(100多种混合方式)

11)   扫描模式:TV扫描(扫描速度不低于25帧/秒)

a)  快扫描  b) 慢扫描 全屏模式下1、4、20、40、80秒/桢,可选

12)   图像储存:640×480,1280×960,2560×1920,5120×3480像素

13)   捕捉的图片可存储在临时图片栏内,可选择单张存储或批量存储,可自动连续命名

14)   电子图像移动:±12μm (WD=8mm)

15)   真空系统:

a)      真空度:10-7Pa (电子枪);10-4Pa (样品室) b)     真空泵:分子泵(磁悬浮型)300L/S×1 c)      机械泵


测试项目

磁性/非磁性 形貌观察

EDS能谱-点扫、线扫、面扫

样品要求

>3mg,固体、粉末、薄膜或纤维样品,潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通


结果实例
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下单须知

场发射扫描电子显微镜(SEM)

1.磁性和非磁性样品均可测试;
2.粉末、液体样品均可,需要离子减薄、电解双喷、FIB、切片制样请在线联系我们。

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