200kV场发射透射电子显微镜(含能谱仪)
- 品 牌 型 号
-
模 式
-
选 项
- 地 址
江苏 苏州
-
价 格
300
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
-
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- 详细介绍
仪器简介
主要技术指标/Main Specifications:
Ø 点分辨率:0.19nm
Point Resolution:0.19nm
Ø 线分辨率:0.102nm
Lattice Resolution:0.102nm
Ø STEM明场线分辨率:0.20nm
STEM Bright-filed lattice resolution:0.20nm
Ø 束斑尺寸/Spot size:
TEM mode:2~5nm
Ø 放大倍数/Magnification:
LOW MAG mode:50×~6,000×
SA MAG mode:8,000×~800,000×
MAG mode:2,000×~1,500,000×
Ø EDS元素测量范围:B5-U92
Element range:B5-U92
Ø EDS分辨率:Mn Ka≤136eV,F Ka≤75eV,C Ka≤72eV
EDS energy resolution:Mn Ka≤136eV, F Ka≤75eV, C Ka≤72eV
Ø 样品要求:直径f3mm,厚度<100nm。导电性良好
Specimen:f3mm diameter, thickness<100nm. Good conductivity
主要功能/Main function:
Ø TEM 明场像和暗场像
TEM bright-field and dark-field images
Ø 高分辨晶格像和结构像
High resolution lattice image and structural image
Ø 选区电子衍射
Selected Area Electron Diffraction(SAED)
Ø 会聚束电子衍射
Convergence Beam Electron Diffraction(CBED)
Ø 纳米束(微束)衍射
Nanometer Beam Electron Diffraction(NBED)
Ø STEM 明场像和暗场像
STEM bright-field image and dark-field image
Ø 高角环形暗场像(HAADF像)—Z-衬度像
High Angle Annular Dark Field image(HAADF)—Z-Contrast image
Ø EDS定性和定量点分析
EDS qualitative and quantitative point analysis
Ø EDS线分析和面分析
EDS line and mapping analysis
Ø 样品双向倾转
Specimen double tilting
Ø CCD 相机数码记录
Recording using digital CCD
------------------------------------------
样品要求:
直径f3mm,厚度<100nm。导电性良好
------------------------------------------------
收费标准:
低倍形貌(低于30万倍)800元/件(备注:一小时之内,超过一小时,另计一见)
高分辨、晶体结构、取向测试、EDS扫描 1600元/件(备注:两小时之内,超过两小时,另计一见)
说明:对于大批量样品测试或多件样品检测同一项目的重复测试,可以协商折扣优惠。
仪器简介
主要技术指标/Main Specifications:
Ø 点分辨率:0.19nm
Point Resolution:0.19nm
Ø 线分辨率:0.102nm
Lattice Resolution:0.102nm
Ø STEM明场线分辨率:0.20nm
STEM Bright-filed lattice resolution:0.20nm
Ø 束斑尺寸/Spot size:
TEM mode:2~5nm
Ø 放大倍数/Magnification:
LOW MAG mode:50×~6,000×
SA MAG mode:8,000×~800,000×
MAG mode:2,000×~1,500,000×
Ø EDS元素测量范围:B5-U92
Element range:B5-U92
Ø EDS分辨率:Mn Ka≤136eV,F Ka≤75eV,C Ka≤72eV
EDS energy resolution:Mn Ka≤136eV, F Ka≤75eV, C Ka≤72eV
Ø 样品要求:直径f3mm,厚度<100nm。导电性良好
Specimen:f3mm diameter, thickness<100nm. Good conductivity
主要功能/Main function:
Ø TEM 明场像和暗场像
TEM bright-field and dark-field images
Ø 高分辨晶格像和结构像
High resolution lattice image and structural image
Ø 选区电子衍射
Selected Area Electron Diffraction(SAED)
Ø 会聚束电子衍射
Convergence Beam Electron Diffraction(CBED)
Ø 纳米束(微束)衍射
Nanometer Beam Electron Diffraction(NBED)
Ø STEM 明场像和暗场像
STEM bright-field image and dark-field image
Ø 高角环形暗场像(HAADF像)—Z-衬度像
High Angle Annular Dark Field image(HAADF)—Z-Contrast image
Ø EDS定性和定量点分析
EDS qualitative and quantitative point analysis
Ø EDS线分析和面分析
EDS line and mapping analysis
Ø 样品双向倾转
Specimen double tilting
Ø CCD 相机数码记录
Recording using digital CCD
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样品要求:
直径f3mm,厚度<100nm。导电性良好
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收费标准:
低倍形貌(低于30万倍)800元/件(备注:一小时之内,超过一小时,另计一见)
高分辨、晶体结构、取向测试、EDS扫描 1600元/件(备注:两小时之内,超过两小时,另计一见)
说明:对于大批量样品测试或多件样品检测同一项目的重复测试,可以协商折扣优惠。