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电子探针

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电子探针

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仪器简介

主要技术指标/Main Specifications

Ø   分析元素范围:Be4-U92

Element rangeBe4-U92

Ø   二次电子像分辨率:5nm30kV,在元素分析位置)

Electron beam resolution5nm30kV, at an analytical position

Ø   电子光学系统放大倍数:50×-400,000×

Magnification of electron optics50×-400,000×

Ø   光学系统放大倍数和分辨率:540×1mm

Magnification and resolution of optics540×, 1mm

Ø   最大样品尺寸:100mm×100mm×23mm(t)

Maximum specimen size100mm×100mm×23mm(t)

Ø   最大样品重量:2kg

Maximum weight of specimen2kg

Ø   EDS可测元素范围:Be4-U92

Element rangeBe4-U92

Ø   EDS分辨率:Mn Ka≤133eVF Ka≤70eVC Ka≤66eV

EDS energy resolutionMn Ka≤133eV, F Ka≤70eV, C Ka≤66eV

Ø   样品要求:尺寸:<100×100×23mm。导电良好

Specimensize:<100×100×23mm. Good conductivity

主要功能/Main function

Ø   二次电子像

Secondary electron image

Ø   背散射电子像

Back-scattered electron image

Ø   EDS/WDS定性和定量分析

EDS/WDS qualitative and quantitative analysis

Ø   EDS/WDS点分析、线分析和面分析

EDS/WDS point analysis, line scan and element mapping

Ø   工作曲线定量分析

Calibration curve analysis

Ø   元素状态分析

Element state analysis

------------------------------------------------

样品要求

尺寸:<100×100×23mm。导电良好

------------------------------------------------

收费标准:

收费标准为基本费300元/件,加具体实验费用

面分析:200/·元素(备注:一小时之内,每超过一小时,另计一面)

线分析:

定性

80/线·元素

定量

150/线·元素

定性点分析:

全元素

180/

定量点分析:

需用标样

300/

(备注:少于30个点;超出30个点的部分,以60/点计)

说明:对于大批量样品测试多件样品检测同一项目的重复测试,可以协商折扣优惠。

仪器简介

主要技术指标/Main Specifications

Ø   分析元素范围:Be4-U92

Element rangeBe4-U92

Ø   二次电子像分辨率:5nm30kV,在元素分析位置)

Electron beam resolution5nm30kV, at an analytical position

Ø   电子光学系统放大倍数:50×-400,000×

Magnification of electron optics50×-400,000×

Ø   光学系统放大倍数和分辨率:540×1mm

Magnification and resolution of optics540×, 1mm

Ø   最大样品尺寸:100mm×100mm×23mm(t)

Maximum specimen size100mm×100mm×23mm(t)

Ø   最大样品重量:2kg

Maximum weight of specimen2kg

Ø   EDS可测元素范围:Be4-U92

Element rangeBe4-U92

Ø   EDS分辨率:Mn Ka≤133eVF Ka≤70eVC Ka≤66eV

EDS energy resolutionMn Ka≤133eV, F Ka≤70eV, C Ka≤66eV

Ø   样品要求:尺寸:<100×100×23mm。导电良好

Specimensize:<100×100×23mm. Good conductivity

主要功能/Main function

Ø   二次电子像

Secondary electron image

Ø   背散射电子像

Back-scattered electron image

Ø   EDS/WDS定性和定量分析

EDS/WDS qualitative and quantitative analysis

Ø   EDS/WDS点分析、线分析和面分析

EDS/WDS point analysis, line scan and element mapping

Ø   工作曲线定量分析

Calibration curve analysis

Ø   元素状态分析

Element state analysis

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样品要求

尺寸:<100×100×23mm。导电良好

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收费标准:

收费标准为基本费300元/件,加具体实验费用

面分析:200/·元素(备注:一小时之内,每超过一小时,另计一面)

线分析:

定性

80/线·元素

定量

150/线·元素

定性点分析:

全元素

180/

定量点分析:

需用标样

300/

(备注:少于30个点;超出30个点的部分,以60/点计)

说明:对于大批量样品测试多件样品检测同一项目的重复测试,可以协商折扣优惠。

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