提供专业粉末X射线衍射仪XRD、TG、SEM、TEM、GPC、气相/液相色谱仪等检测，欢迎咨询！
公司依托中科院、中国农科院、复旦大学、浙江大学、山东大学等大学科研机构，专业承接企业研发项目委托，特殊化合物合成，以及材料的成分分析、配方还原等科研需求，欢迎大家咨询、合作、交流。

仪器名称：扫描电镜（SEM）
仪器型号：Zeiss Ultra 55
技术参数：1、分辨率1.0 nm at 15 kV；1.7 nm at 1 kV；4.0 nm at 0.1 kV
2、加速电压0.1-30kV
3、放大倍数12-900000
4、探测电流4pA-20nA
5、电子枪：热场发射
应用范围：用于观察样品的表面形态、断口形貌、磨损表面形貌、纳米结构材料形态、生物样品形貌等；结构分析、成分分析。广泛用于材料学、机械学、微电子学、生物学、医学等领域。
材料要求：金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子、生物材料等均可，具有一定的导电性，或喷碳/金处理。

提供专业粉末X射线衍射仪XRD、TG、SEM、TEM、GPC、气相/液相色谱仪等检测，欢迎咨询！
公司依托中科院、中国农科院、复旦大学、浙江大学、山东大学等大学科研机构，专业承接企业研发项目委托，特殊化合物合成，以及材料的成分分析、配方还原等科研需求，欢迎大家咨询、合作、交流。

仪器名称：扫描电镜（SEM）
仪器型号：Zeiss Ultra 55
技术参数：1、分辨率1.0 nm at 15 kV；1.7 nm at 1 kV；4.0 nm at 0.1 kV
2、加速电压0.1-30kV
3、放大倍数12-900000
4、探测电流4pA-20nA
5、电子枪：热场发射
应用范围：用于观察样品的表面形态、断口形貌、磨损表面形貌、纳米结构材料形态、生物样品形貌等；结构分析、成分分析。广泛用于材料学、机械学、微电子学、生物学、医学等领域。
材料要求：金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子、生物材料等均可，具有一定的导电性，或喷碳/金处理。