X射线衍射仪
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品 牌
日本理学公司
型 号Ultima IV
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模 式
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选 项
- 地 址
北京
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价 格
150
- 联系人:易科学客服
- 联系电话:400-086-3999 转 801
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- 详细介绍
仪器简介
一.X射线衍射仪基本介绍:
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。
二.X射线衍射仪技术参数:
1.X射线发生器功率为3KW。
2.测角仪为水平测角仪。
3.测角仪最小步进为1/10000度。
4.测角仪配程序式可变狭缝。
5.高反射效率的石墨单色器。
6.CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)。
7.小角散射测试组件。
8.多用途薄膜测试组件。
9.微区测试组件。
10.In-Plane测试组件(理学独有)。
11.高速探测器D/teX-Ultra。
12.X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC。
13.分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等。
三.X射线衍射仪应用范围:
1.粉末样品的物相定性与定量分析。
2.计算结晶化度、晶粒大小。
3.确定晶系、晶粒大小与畸变。
4.Rietveld结构分析。
5.薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度。
6.In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。
7.小角散射与纳米材料粒径分布。
8.微区样品的分析。
样品要求
仪器简介
一.X射线衍射仪基本介绍:
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。
二.X射线衍射仪技术参数:
1.X射线发生器功率为3KW。
2.测角仪为水平测角仪。
3.测角仪最小步进为1/10000度。
4.测角仪配程序式可变狭缝。
5.高反射效率的石墨单色器。
6.CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)。
7.小角散射测试组件。
8.多用途薄膜测试组件。
9.微区测试组件。
10.In-Plane测试组件(理学独有)。
11.高速探测器D/teX-Ultra。
12.X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC。
13.分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等。
三.X射线衍射仪应用范围:
1.粉末样品的物相定性与定量分析。
2.计算结晶化度、晶粒大小。
3.确定晶系、晶粒大小与畸变。
4.Rietveld结构分析。
5.薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度。
6.In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。
7.小角散射与纳米材料粒径分布。
8.微区样品的分析。
样品要求
1、样品形态要求为固体或粉末,固体测面磨平;粉末要求200目(74微米)以下。
2、样品量:固体要求2x2x2mm 以下,粉末要求1g以上最好。
3、不接收有毒、有辐射的样品。