一.场发射透射电镜功能特点：
1.Tecnai G2 F30 场发射透射电镜是一个多功能、多用户环境的300kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能, 而在同类型仪器中独占鳌头。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 使用户从必须首先成为电镜专家才能获得理想结果的压力中解放出来, 使他们专注于自己的研究工作。Tecnai G2的“完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。
2.Tecnai G2 F30场发射透射电镜具有各种分析要求的、不同应用水平的操作者都要在上面工作。同时, 这一TEM/STEM系统已经为明天做好准备, 它可以用新的功能进行升级, 以保证方便快速地进行更先进的数据采集。
3.除了具有200kV的各种优点外, Tecnai G2 F30场发射透射电镜提供了300kV的加速电压, 可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30使用户可以在原子尺度的分辨率进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

二.场发射透射电镜技术参数：
1.信息分辨率极限：U-TWIN 0.10nm S-TWIN 0.14nm。
2.点分辨率：U-TWIN 0.17nm S-TWIN 0.20nm。
3.高分辨STEM分辨率：U-TWIN 0.14nm S-TWIN 0.19nm。
4.样品最大倾角：S-TWIN +/- 40o。

三.场发射透射电镜应用范围：
1.该场发射透射电镜具有衍衬成像、高分辨成像、Z衬度成像、能量过滤成像、电子衍射、能谱分析和电子能量损失谱分析等多种功能，属于分析型透射电子显微镜，可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。

2.该场发射透射电镜采用场发射电子枪，具有较高的分辨率，特别适用于高分辨电子显微分析；样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品，以及各种形状的纳米材料等。                                  

一.场发射透射电镜功能特点：
1.Tecnai G2 F30 场发射透射电镜是一个多功能、多用户环境的300kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能, 而在同类型仪器中独占鳌头。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 使用户从必须首先成为电镜专家才能获得理想结果的压力中解放出来, 使他们专注于自己的研究工作。Tecnai G2的“完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。
2.Tecnai G2 F30场发射透射电镜具有各种分析要求的、不同应用水平的操作者都要在上面工作。同时, 这一TEM/STEM系统已经为明天做好准备, 它可以用新的功能进行升级, 以保证方便快速地进行更先进的数据采集。
3.除了具有200kV的各种优点外, Tecnai G2 F30场发射透射电镜提供了300kV的加速电压, 可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30使用户可以在原子尺度的分辨率进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

二.场发射透射电镜技术参数：
1.信息分辨率极限：U-TWIN 0.10nm S-TWIN 0.14nm。
2.点分辨率：U-TWIN 0.17nm S-TWIN 0.20nm。
3.高分辨STEM分辨率：U-TWIN 0.14nm S-TWIN 0.19nm。
4.样品最大倾角：S-TWIN +/- 40o。

三.场发射透射电镜应用范围：
1.该场发射透射电镜具有衍衬成像、高分辨成像、Z衬度成像、能量过滤成像、电子衍射、能谱分析和电子能量损失谱分析等多种功能，属于分析型透射电子显微镜，可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。

2.该场发射透射电镜采用场发射电子枪，具有较高的分辨率，特别适用于高分辨电子显微分析；样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品，以及各种形状的纳米材料等。